《半导体物理》考试大纲

考试科目名称：半导体物理Ⅱ 考试科目代码：[829]

一、考试要求：

要求考生系统地掌握半导体物理的基本概念和基本原理，并能利用基本原理分析半导体的物理性能。要求考生对半导体的晶体结构和能带论、载流子统计分布、载流子输运过程、p-n结理论、金属-半导体接触理论、半导体光电效应等基本原理有很好的掌握，并能熟练运用分析半导体的光电特性。

二、考试内容：

1）半导体晶体结构和能带论
a:半导体晶格结构及电子状态和能带
b:半导体中电子的运动
c:本征半导体的导电机构
d:硅和锗及常用化合物半导体的能带结构
2)杂质半导体理论
a:硅和锗晶体中的杂质能级
b:常用化合物半导体中的杂质能级
c:缺陷、位错能级
3)载流子的统计分布
a:状态密度与载流子的统计分布
b:本征与杂质半导体的载流子浓度
c:一般情况下载流子统计分布
d:简并半导体
4)半导体的导电性
a:载流子的漂移运动与散射机构
b:迁移率、电阻率与杂质浓度和温度的关系
c:多能谷散射、耿氏效应
5)非平衡载流子
a:非平衡载流子的注入、复合与寿命
b:准费米能级
c:复合理论、陷阱效应
d:载流子的扩散、电流密度方程
e:连续性方程
6)p-n结理论
a:p-n结及其能带图
b:p-n结电流电压特性
c:p-n结电容、p-n结隧道效应
7)金属-半导体接触理论
a:金-半接触、能带及整流理论
b:欧姆接触
8)半导体光电效应
a:半导体的光学性质（光吸收和光发射）
b:半导体的光电导效应
c:半导体的光生伏特效应
d:半导体发光二极管、光电二极管

三、试卷结构：

a)考试时间：180分钟，满分：150分
b)题型结构
a:概念及简答题（60分）
b:论述题（90分）
c）内容结构
a:半导体晶体结构和能带论及杂质半导体理论（30分）
b:载流子的统计分布（20分）
c:半导体的导电性（20分）
d:非平衡载流子（20分）
e:p-n结理论和金属-半导体接触理论(30分)
f:半导体光电效应(30分)

四、参考书目

1.刘恩科，朱秉升，罗晋升编著.半导体物理学.电子工业出版社,2011.03.
2.[美]施敏（S.M.Sze），半导体器件物理，电子工业出版社，1987.12.